DHMS 系列 微波光學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀
本實(shí)驗(yàn)儀采用類似光學(xué)分光計的設(shè)計思想，開展微波光學(xué)特性的測試。
國家實(shí)用新型專利：ZL 2007 2 0110875.2
主要實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、了解與學(xué)習(xí)微波產(chǎn)生的基本原理以及傳播和接收等基本特性；
2、進(jìn)行微波干涉、衍射、偏振等實(shí)驗(yàn)；
3、微波的邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)；
4、觀測模擬晶體的微波布拉格衍射現(xiàn)象；
5、研究電磁波的極化現(xiàn)象；
6、圓極化波反射和折射特性的實(shí)驗(yàn)；
7、線極化、圓極化或橢圓極化的產(chǎn)生和檢測實(shí)驗(yàn)。
下一個：DH2002 核磁共振儀
